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納米粒度儀是用物理的方法測(cè)試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，采用數(shù)字相關(guān)器的納米激光粒度儀，其采用高速數(shù)字相關(guān)器和高性能光電倍增管作為核心器件，具有操作簡(jiǎn)便、測(cè)試快捷、高分辨、高重復(fù)及測(cè)試準(zhǔn)確等特點(diǎn)，是納米顆粒粒度測(cè)試的產(chǎn)品。納米粒度儀具有的性能特點(diǎn)◆先進(jìn)的測(cè)試原理:本儀器采用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)的速度測(cè)定顆粒大小。小顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度快，大顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度慢，激光照射這些顆粒，不同大小的顆粒將使散射光發(fā)生快慢不同的漲落起伏。光子相關(guān)光譜...

納米粒度儀一般有動(dòng)態(tài)光散射法和超聲衰減法，后者主要用于高濃、高粘和有色樣品的測(cè)定，粒度范圍可以覆蓋納米區(qū)域和微米區(qū)域。本文主要介紹動(dòng)態(tài)光散射法（DynamiclightScattering,即DLS),也叫光子相關(guān)光譜法。這是目前市面上常見(jiàn)的應(yīng)用廣泛的納米粒度表征手段，具有速度快，樣品用量少，重復(fù)性好等特點(diǎn)，并且可以附加光散射電泳法測(cè)定Zeta電位的功能。但并不適用于分子量的測(cè)定。動(dòng)態(tài)光散射納米粒度儀原理是基于布朗運(yùn)動(dòng)，粒子的布朗運(yùn)動(dòng)導(dǎo)致光強(qiáng)的波動(dòng)；布朗運(yùn)動(dòng)的速度依賴于粒子的...

國(guó)產(chǎn)納米粒度儀采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律，再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對(duì)比較簡(jiǎn)單，但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會(huì)存在偏差，從而有約束擬合計(jì)算出的測(cè)試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。約束擬合反演即測(cè)試前對(duì)顆粒群不做任何假設(shè)，通過(guò)...

Zeta電位儀是一個(gè)負(fù)反饋放大--輸出系統(tǒng)，與被保護(hù)物(如埋地管道)構(gòu)成閉環(huán)調(diào)節(jié)，通過(guò)參比電極測(cè)量通電點(diǎn)電位，作為取樣信號(hào)與控制信號(hào)進(jìn)行比較，實(shí)現(xiàn)控制并調(diào)節(jié)極化電流輸出，使通電點(diǎn)電位得以保持在設(shè)定的控制電位上。Zeta電位儀的陰極保護(hù)技術(shù)被廣泛地應(yīng)用于埋地金屬管道和處于腐蝕介質(zhì)中的設(shè)施，以防止或延緩金屬管道及設(shè)施的腐蝕，延長(zhǎng)其使用壽命。陰極保護(hù)就是對(duì)被保護(hù)的金屬管道及其它需保護(hù)的設(shè)施實(shí)施外加直流電，進(jìn)行陰極極化。作為陰極保護(hù)系統(tǒng)的主要儀器，用以提供直流電源，設(shè)定通電點(diǎn)電位。Z...

粒度檢測(cè)儀是一款集成打印和自充電功能的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)用油液污染分析儀器，它不但可以用來(lái)實(shí)時(shí)監(jiān)控液壓和潤(rùn)滑系統(tǒng)的油液清潔度變化狀況，使裝備維護(hù)者能夠在早期進(jìn)行干預(yù)，以防止污染物對(duì)液壓系統(tǒng)部件的磨損或破壞，還可以作為售后或質(zhì)檢人員的臨時(shí)檢測(cè)工具，用來(lái)判斷在用油的品質(zhì)，以免因油品不良造成機(jī)器設(shè)備出現(xiàn)故障。粒度檢測(cè)儀可以針對(duì)液壓系統(tǒng)中的油液顆粒度、清潔度和污染物進(jìn)行監(jiān)測(cè)和分析，提高系統(tǒng)中的清潔效率。液壓設(shè)備如果受到顆粒物的侵蝕，一定要使用這些專業(yè)的過(guò)濾器來(lái)幫助系統(tǒng)更好的進(jìn)行清潔。該部件使用...

漿料粒度和Zeta電位分析儀中的Zeta電位是衡量膠體分散系穩(wěn)定性的關(guān)鍵參數(shù)，是膠體穩(wěn)定性的關(guān)鍵指標(biāo)，Zeta電位絕對(duì)值越大，膠體越穩(wěn)定，因此對(duì)膠體zeta電位的測(cè)試非常有必要。該參數(shù)被廣泛應(yīng)用于工業(yè)和研究領(lǐng)域，被用于監(jiān)測(cè)膠體分散系的制造流程，以及優(yōu)化膠體系統(tǒng)的性能，例如，在涂料、油墨和靜電墨粉、紙張涂層、陶瓷以及許多食品、化妝品和制藥的制作、分離或混合的過(guò)程中，可以通過(guò)監(jiān)測(cè)和調(diào)整體系的zeta電位，來(lái)控制膠體的穩(wěn)定性，因此準(zhǔn)確測(cè)量膠體中帶電顆粒的zeta電位非常重要。漿料粒...

粒度儀因具體用途不同，儀器的構(gòu)造差異很大，但總體結(jié)構(gòu)基本相同，主要由激光光源、擴(kuò)束準(zhǔn)直系統(tǒng)、樣品池、傅里葉透鏡、環(huán)形光電探測(cè)器、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)組成。目前國(guó)內(nèi)外有不少研制粒度儀的廠家，產(chǎn)品種類比較繁多。對(duì)此，如何判斷和選擇粒度分析儀呢？1了解粒度儀的關(guān)鍵技術(shù)(1)粒度測(cè)量范圍。每個(gè)粒度儀都有自己的測(cè)量范圍和適用范圍，并不是測(cè)量范圍越寬越好。(2)激光光源及檢測(cè)器。激光光源為氣體光源或固體光源，氣體光源穩(wěn)定性好于固體光源，但一般波長(zhǎng)較短。光源功率越大，則散射光的能量越大...

恒電位儀是一個(gè)負(fù)反饋放大--輸出系統(tǒng)，與被保護(hù)物(如埋地管道)構(gòu)成閉環(huán)調(diào)節(jié)，通過(guò)參比電極測(cè)量通電點(diǎn)電位，作為取樣信號(hào)與控制信號(hào)進(jìn)行比較，實(shí)現(xiàn)控制并調(diào)節(jié)極化電流輸出，使通電點(diǎn)電位得以保持在設(shè)定的控制電位上。恒電位儀的陰極保護(hù)技術(shù)被廣泛地應(yīng)用于埋地金屬管道和處于腐蝕介質(zhì)中的設(shè)施，以防止或延緩金屬管道及設(shè)施的腐蝕，延長(zhǎng)其使用壽命。陰極保護(hù)就是對(duì)被保護(hù)的金屬管道及其它需保護(hù)的設(shè)施實(shí)施外加直流電，進(jìn)行陰極極化。作為陰極保護(hù)系統(tǒng)的主要儀器，用以提供直流電源，設(shè)定通電點(diǎn)電位。恒電位儀作為電...